UV-4501 紫外可見分光光度計(jì)技術(shù)參數(shù)：
 

型號(hào) UV-4501/4501s
波長(zhǎng)范圍 190―1100 nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 ±0.3nm
波長(zhǎng)重復(fù)性 ±0.2 nm
透射比準(zhǔn)確度 ±0.5％T
透射比重復(fù)性 0.3%T
雜光 ≤0.10%T在220nm，340 nm處
穩(wěn)定性 0.002A/h 在500nm處 0.002A/h 在500nm處
0.002A/h 在500nm處 0.002A/h 在500nm處
噪聲 ±0.10％T
光學(xué)系統(tǒng) 自準(zhǔn)式，雙光束，1200條/毫米衍射全息光柵
光譜帶寬 0.5nm,1nm,2nm,4nm
波長(zhǎng)精度 0.3 nm
波長(zhǎng)顯示 0.1 nm
光度范圍 CONC:0--9999
Abs:-0.342--4.000A
E:0--1000
T:0--220％T
數(shù)據(jù)輸出 USB標(biāo)準(zhǔn)接口
打印輸出 并行打印口，HP，EPSON噴墨激光兼容打印機(jī)
儀器尺寸 640mm（長(zhǎng)）×450 mm（寬）×260mm（高）
重量 30Kg
電源 AC220V/50Hz（或按用戶要求）
光源 進(jìn)口氘燈、溴鎢燈
功率 200W（主機(jī)）
產(chǎn)地 中國(guó)

UV-4501 紫外可見分光光度計(jì)主要特點(diǎn)：

UV4501、UV4501S紫外可見分光光度計(jì)采用雙光束動(dòng)態(tài)反饋比例記錄測(cè)光系統(tǒng)定性。保證低的雜散輻射率及優(yōu)異的成像質(zhì)量，波長(zhǎng)自動(dòng)校正系統(tǒng)，狹縫可調(diào)確保了儀器的高精度，高穩(wěn)定性及可靠性。

※ 優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)，*的電子學(xué)系統(tǒng)，保證了0.015%T的低雜散光
※ 采用進(jìn)口全息光柵，實(shí)現(xiàn)了低雜散光；
※ 單光束掃描式基線記憶系統(tǒng)，基線記憶分辨率0.1nm
※ 雙光束動(dòng)態(tài)反饋比例記錄測(cè)光系統(tǒng)保證了基線穩(wěn)定性；
※ zui快掃描速度800nm／分，可記憶全波長(zhǎng)范圍基線。
※ LCD大屏幕顯示、輕觸式按鍵，外觀新穎操作方便。
※ 儀器自檢系統(tǒng)，可以檢驗(yàn)各執(zhí)行部件的到位動(dòng)作狀態(tài)，并可將結(jié)構(gòu)告知用戶。
※ 計(jì)算機(jī)及打印機(jī)輸出系統(tǒng)：
※ 定波長(zhǎng)測(cè)試T，A ，C
※ 掃描間隔0.1、0.2、0.5、1、2、5nm
※ 掃描速度高、中、低三級(jí)
※ 掃描區(qū)間任意輸入
※ 軟件可在線升級(jí)
※ 豐富的定量分析軟件和光譜掃描及處理軟件；
※ 有蠕動(dòng)進(jìn)樣器、超微量池架、恒溫池架、光學(xué)積分球、鏡面反射、光纖附件和比色皿系列等大量用戶可選附件，使儀器的應(yīng)用范圍大大擴(kuò)展。
軟件功能詳細(xì)介紹
光譜掃描：A：掃描間隔：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0nm
B：掃描區(qū)間可任意輸入
C：高、中、低三檔掃描速度可自選
D：坐標(biāo)參數(shù)、掃描次數(shù)、T/A/E模式皆可自選
E：有尋找波峰、谷功能

動(dòng)力學(xué)測(cè)試：
A：zui小采樣間隔0.5秒，zui大運(yùn)行時(shí)間9小時(shí)
B：可設(shè)定延時(shí)時(shí)間、運(yùn)行時(shí)間、采樣時(shí)間間隔
C：T/A模式轉(zhuǎn)換

多波長(zhǎng)測(cè)試：
A：測(cè)試波長(zhǎng)多達(dá)10個(gè)
B：測(cè)試樣品3-8個(gè)

建立標(biāo)準(zhǔn)曲線、定量測(cè)試：
A：?jiǎn)尾ㄩL(zhǎng)法、等吸收點(diǎn)雙波長(zhǎng)法和三點(diǎn)法
B：可做一階過(guò)零、不過(guò)零線性回歸和二階、三階曲線擬合
 

DNA/Protein測(cè)試：
A：可手動(dòng)、自動(dòng)測(cè)試，測(cè)試波長(zhǎng)缺省值為260nm、280nm和320nm，也可修改
B：可計(jì)算DNA、Protein和Ratio比率
其它附屬功能：
A：波長(zhǎng)校準(zhǔn)
B：光度精度復(fù)核
C：波長(zhǎng)精度復(fù)核
D：能量zui大點(diǎn)尋找（用于微量測(cè)試）
E：可直接連接HP和Epson打印機(jī)打印實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和圖譜。